Langsung ke konten
Terbaru Peraturan Putusan MK Putusan MA Pencarian Tentang Disclaimer
PERMENPANRB Peraturan Menteri Nomor 26 Tahun 2013 tentang JABATAN FUNGSIONAL PEMRIKSA PATEN DAN ANGKA KREDITNYA

Pasal 9

BAB 6 — RINCIAN KEGIATAN DAN UNSUR YANG DINILAI DALAM PEMBERIAN ANGKA KREDIT

(1) Rincian kegiatan Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten sesuai jenjang jabatan, sebagai berikut: a. Pemeriksa Paten Pertama, meliputi:

  1. mencatat dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri yang diterima;

  2. memilah dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan kategori;

www.djpp.kemenkumham.go.id

  1. memilah dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan bidang substansi;

  2. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  3. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  4. memberi label permohonan substantif Paten Sederhana normal dan permohonan substantif Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  5. menyusun dokumen permohonan substantif paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan paten W dengan 3 (tiga) dokumen permohonan substantif klaim mandiri atau lebih, dan permohonan paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri

  6. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  7. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  8. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  9. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  10. menentukan invensi yang diajukan memenuhi Pasal 6 UNDANG-UNDANG Nomor 14 tahun 2001 tentang Paten;

  11. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan Paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten Sederhana Normal;

  12. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan Paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  13. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; www.djpp.kemenkumham.go.id

  14. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  15. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  16. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  17. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  18. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  19. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  20. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  21. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  22. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  23. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  24. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  25. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  26. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  27. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  28. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  29. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  30. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  31. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; www.djpp.kemenkumham.go.id

  32. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  33. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  34. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  35. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  36. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  37. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  38. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  39. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  40. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  41. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  42. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  43. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  44. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal; www.djpp.kemenkumham.go.id

  45. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  46. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  47. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  48. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  49. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  50. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  51. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  52. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  53. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  54. menentukan langkah-langkah inventif dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  55. menentukan langkah-langkah inventif dengan Mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  56. menentukan langkah-langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  57. menentukan langkah-langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  58. menentukan langkah-langkah inventif dengan Menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen- dokumen pembanding dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  59. menentukan langkah-langkah inventif dengan Menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  60. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  61. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  62. membuat surat hasil pemeriksaan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  63. membuat surat hasil pemeriksaan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  64. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  65. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  66. menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  67. menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  68. membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  69. membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  70. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  71. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  72. melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  73. melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  74. membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  75. membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  76. membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  77. membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  78. membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten Sederhana normal;

  79. membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten W dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  80. melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis;

  81. melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas;

  82. melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris;

  83. melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional;

  84. melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan

  85. melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. b. Pemeriksa Paten Muda, meliputi:

  86. mencatat dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri yang diterima;

  87. memilah dokumen permohonan permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan kategori; www.djpp.kemenkumham.go.id

  88. memilah dokumen permohonan permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandirisesuai dengan bidang substansi;

  89. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  90. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  91. memberi label permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  92. menyusun dokumen permohonan substantif Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri, dokumen permohonan substantif Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri sesuai dengan urutan dan pemohon;

  93. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  94. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  95. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  96. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  97. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  98. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  99. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  100. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  101. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  102. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  103. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  104. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  105. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  106. menganalisis konsistensi uraian dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  107. menganalisis konsistensi uraian dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  108. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  109. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  110. menganalisis konsistensi penggunaan istilah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  111. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  112. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  113. menganalisis konsistensi satuan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  114. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  115. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  116. menganalisis konsistensi simbol dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  117. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  118. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  119. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  120. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  121. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  122. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  123. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  124. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  125. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  126. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  127. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  128. memeriksa kejelasan gambar invensi dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  129. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  130. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  131. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  132. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  133. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  134. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  135. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  136. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  137. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  138. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  139. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  140. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  141. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  142. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  143. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention). dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  144. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  145. melakukan pengklasifikasian dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  146. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  147. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  148. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  149. melakukan pengklasifikasian ulang dengan menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  150. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  151. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  152. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili Paten dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  153. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  154. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  155. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  156. melakukan penelusuran tambahan dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  157. melakukan penelusuran tambahan dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  158. melakukan penelusuran tambahan dengan menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusurandalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  159. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten gandadalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  160. melakukan penelusuran tambahan dengan melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  161. melakukan penelusuran tambahan dengan Melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten www.djpp.kemenkumham.go.id

ganda dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 77. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 78. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 79. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 80. menentukan langkah inventif dengan menentukan dokumen- dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 81. menentukan langkah inventif dengan menentukan dokumen- dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 82. menentukan langkah inventif dengan menentukan dokumen- dokumen pembanding yang relevan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 83. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 84. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 85. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 86. menentukan langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 87. menentukan langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  1. menentukan langkah inventif dengan memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  2. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur- fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  3. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur- fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  4. menentukan langkah inventif dengan mengidentifikasi fitur- fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah dalam pemeriksaan Paten Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  5. menentukan langkah inventif dengan menganalisis efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  6. menentukan langkah inventif dengan menganalisis efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  7. menentukan langkah inventif dengan menganalisis efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  8. menentukan langkah inventif dengan menentukan ketidakterdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  9. menentukan langkah inventif dengan menentukan ketidakterdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  10. menentukan langkah inventif dengan menentukan ketidakterdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  11. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  12. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 100.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 101.membuat surat hasil pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 102.membuat surat hasil pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 103.membuat surat hasil pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 104.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 105.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 106.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 107.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 108.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 109.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 110.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 111.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 112.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 113.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

114.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 115.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 116.melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri;

117.melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 118.melakukan diskusi dari isi komunikasi dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 119.memberikan keputusan (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri; 120.memberikan keputusan (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 121.memberikan keputusan (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri; 122.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri yang belum diproses; 123.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih yang belum diproses; 124.membuat surat penarikan kembali Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri yang belum diproses; 125.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 2 (dua) klaim mandiri yang sedang dalam proses pemeriksaan; 126.membuat surat penarikan kembali Paten W dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih yang sedang dalam proses pemeriksaan; 127.membuat surat penarikan kembali Paten P Normal dengan 1 (satu) klaim mandiri yang sedang dalam proses pemeriksaan; 128.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan tahap awal Pemeriksa Paten Pertama; 129.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan tahap lanjutan Pemeriksa Paten Pertama; www.djpp.kemenkumham.go.id

130.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan tahap akhir Pemeriksa Paten Pertama; 131.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan penarikan kembali Pemeriksa Paten Pertama; 132.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis; 133.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas; 134.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris; 135.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional; 136.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan 137.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. c. Pemeriksa Paten Madya, meliputi:

  1. mencatat dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan substantif Paten Sederhana Lengkap yang diterima;
  2. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan substantif Paten Sederhana Lengkap sesuai dengan kategori ;
  3. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap sesuai dengan bidang substansi;
  4. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap;
  5. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim www.djpp.kemenkumham.go.id

mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap; 6. memberi label dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Substantif Sederhana Lengkap; 7. menyusun dokumen permohonan substantif Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri, permohonan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih, dan permohonan Paten Sederhana Lengkap sesuai dengan urutan dan pemohon; 8. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 9. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 10. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 11. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 12. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 13. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 14. menentukan invensi yang diajukan memenuhi Pasal 6 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang paten, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 15. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap , dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 16. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap , dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 17. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap , dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; www.djpp.kemenkumham.go.id

  1. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  2. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  3. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  4. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  5. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  6. menganalisis konsistensi uraian Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  7. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  8. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  9. menganalisis konsistensi penggunaan istilah Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  10. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  11. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  12. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  13. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  14. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  15. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  16. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  17. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  18. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  19. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  20. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  21. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  22. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  23. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  24. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  25. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  26. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  27. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  28. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  29. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  30. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  31. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  32. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  33. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  34. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  35. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  36. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; www.djpp.kemenkumham.go.id

  37. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  38. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter)pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  39. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  40. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  41. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  42. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  43. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  44. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  45. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  46. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam) pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  47. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  48. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  49. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  50. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  51. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili paten pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  52. melakukan penelusuran untuk mendapatkan famili paten pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  53. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  54. melakukan penelusuran berdasarkan klas yang diperoleh, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  55. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  56. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  57. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  58. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  59. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  60. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  61. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam Pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  62. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  63. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  64. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  65. mengidentifikasi masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  66. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  67. memformulasikan masalah dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  68. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  69. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  70. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  71. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  72. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  73. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  74. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  75. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  76. menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  77. membuat surat hasil pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  78. membuat surat hasil pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  79. membuat surat hasil pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap;

  80. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  81. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  82. menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 100.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

101.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 102.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 103.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 104.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 105.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 106.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 107.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 108.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 109.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 110.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 111.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 112.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 113.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 114.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 115.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 116.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain untuk pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 117.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 118.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 119.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; www.djpp.kemenkumham.go.id

120.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Normal dengan 2 (dua) klaim mandiri; 121.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Normal dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 122.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten Sederhana Lengkap; 123.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda pada tahap awal; 124.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda pada tahap lanjutan; 125.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda pada tahap akhir; 126.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Muda untuk penarikan kembali; 127.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis; 128.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas; 129.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris; 130.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penasehat (advisor) di lembaga-lembaga penelitian; 131.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai koordinator pemeriksa antar kantor paten; 132.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai Koordinator pemeriksa untuk mediasi paten; 133.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai ketua kelompok Pemeriksa Paten; 134. 135.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim sistem inovasi nasional; 136.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim ekonomi kreatif; 137.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota dewan riset nasional; 138.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim koordinasi perizinan peneliti asing; 139.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji calon pemeriksa paten; 140.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji penjenjangan jabatan fungsional pemeriksa paten; www.djpp.kemenkumham.go.id

141.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim penerapan dan pengkajian teknologi; 142.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai juri lomba inovasi nasional; 143.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai tim pelaksanaan paten; 144.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional; 145.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan 146.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. d. Pemeriksa Paten Utama, meliputi:

  1. mencatat dokumen permohonan substantif paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih yang diterima;

  2. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih sesuai dengan kategori;

  3. memilah dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri mandiri atau lebih sesuai dengan bidang substansi;

  4. memeriksa kelengkapan administrasi dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  5. memeriksa kelengkapan fisik dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  6. memberi label dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan substatif Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  7. menyusun dokumen permohonan substantif Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri, permohonan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri, dan permohonan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri sesuai dengan urutan dan pemohon;

  8. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  9. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  10. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan suatu invensi dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  11. menentukan permohonan Paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang Paten, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  12. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  13. menentukan permohonan paten yang diajukan merupakan invensi yang dikecualikan dalam Pasal 7 UNDANG-UNDANG No. 14 tahun 2001 tentang paten, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  14. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  15. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  16. menentukan invensi yang diuraikan di dalam permohonan paten telah jelas dan lengkap, dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  17. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  18. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandirii;

  19. menganalisis relevansi antara masalah dan pemecahan masalah, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  20. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  21. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  22. menganalisis konsistensi uraian pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  23. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  24. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  25. menganalisis konsistensi penggunaan istilah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  26. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  27. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  28. menganalisis konsistensi satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  29. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  30. menganalisis konsistensi simbol satuan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  31. menganalisis konsistensi simbol pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  32. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  33. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  34. menentukan keterdukungan klaim oleh deskripsi dan gambar pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  35. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  36. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  37. memeriksa jumlah kata di dalam abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  38. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  39. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  40. memeriksa abstrak yang merepresentasikan invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

  41. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  42. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  43. memeriksa kejelasan gambar invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  44. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  45. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  46. memeriksa relevansi antara gambar dengan deskripsi, klaim dan abstrak pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  47. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  48. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  49. memeriksa kejelasan klaim (produk, proses/metode, alat/peralatan/sistem, product by process, second medical use, metode bisnis, perangkat lunak komputer) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  50. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  51. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  52. menentukan persoalan pokok (subject matter) dari suatu invensi dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  53. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  54. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  55. menentukan batasan-batasan invensi (critical subject matter) dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  56. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  57. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  58. menentukan satu kesatuan invensi (Unity of invention) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  59. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  60. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  61. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam Pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  62. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  63. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  64. menentukan klasifikasi tambahan dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  65. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  66. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  67. menentukan klasifikasi utama dari suatu invensi berdasarkan Klasifikasi Internasional (IPC), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  68. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  69. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  70. menentukan dokumen pembanding terdekat (closest prior art), dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  71. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  72. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  73. melakukan penelusuran internal untuk mencegah terjadinya paten ganda, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  74. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  75. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  76. membandingkan klaim-klaim invensi dengan dokumen pembanding terdekat (closest prior art) yang diperoleh dari hasil penelusuran, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  77. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  78. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  79. menentukan dokumen-dokumen pembanding yang relevan, paten dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  80. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  81. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  82. mengidentifikasi masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  83. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  84. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  85. memformulasikan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  86. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  87. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  88. mengidentifikasi fitur-fitur teknis yang mendukung pemecahan masalah pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  89. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  90. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  91. menganalisa efek teknis fitur-fitur klaim invensi terhadap dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  92. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  93. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  94. menentukan ketidak-terdugaan (non-obvious) klaim-klaim invensi berdasarkan kombinasi dokumen-dokumen pembanding tersebut terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  95. menerapkan teori murni terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri;

  96. menerapkan teori murni terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri;

  97. menerapkan teori murni terhadap pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih;

  98. mengevaluasi lingkup klaim pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

  99. mengevaluasi lingkup klaim pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 100.mengevaluasi lingkup klaim pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 101.mengevaluasi perubahan/amandemen klaim-klaim terhadap permohonan asli pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 102.mengevaluasi perubahan/amandemen klaim-klaim terhadap permohonan asli pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 103.mengevaluasi perubahan/amandemen klaim-klaim terhadap permohonan asli pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 104.menentukan jika pemohon harus diminta untuk membatasi klaim-klaim terhadap invensi tunggal, bukan pluralitas klaim invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 105.menentukan jika pemohon harus diminta untuk membatasi klaim-klaim terhadap invensi tunggal, bukan pluralitas klaim invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 106.menentukan jika pemohon harus diminta untuk membatasi klaim-klaim terhadap invensi tunggal, bukan pluralitas klaim invensi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 107.mengenali dan mengembangkan pengaruh-pengaruh yang mungkin dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 108.mengenali dan mengembangkan pengaruh-pengaruh yang mungkin dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 109.mengenali dan mengembangkan pengaruh-pengaruh yang mungkin dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 110.MEMUTUSKAN keadaan khusus dimana pemohon mencoba untuk membuat perubahan besar dalam permohonan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 111.MEMUTUSKAN keadaan khusus dimana pemohon mencoba untuk membuat perubahan besar dalam permohonan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 112.MEMUTUSKAN keadaan khusus dimana pemohon mencoba untuk membuat perubahan besar dalam permohonan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; www.djpp.kemenkumham.go.id

113.menentukan keefektifan dan/atau kegunaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 114.menentukan keefektifan dan/atau kegunaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 115.menentukan keefektifan dan/atau kegunaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 116.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 117.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 118.menentukan keterterapan klaim-klaim invensi dalam industri pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 119.membuat surat hasil pemeriksaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 120.membuat surat hasil pemeriksaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 121.membuat surat hasil pemeriksaan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 122.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 123.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 124.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 125.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 126.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 127.menganalisis surat tanggapan dan/atau amandemen pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 128.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 129.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 130.membuat surat hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 131.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; www.djpp.kemenkumham.go.id

132.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 133.menerima surat tanggapan hasil pemeriksaan lanjutan pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 134.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 135.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 136.melakukan diskusi dari isi komunikasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 137.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 138.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri; 139.melakukan Mediasi pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 140.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 141.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri; 142.membuat keputusan akhir (diberi, ditolak, dianggap ditarik kembali) dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 143.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 144.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri 145.memberikan saran kepada pemohon paten yang diberikan dalam pelaksanaannya kemungkinan harus melanggar paten orang lain dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 146.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 147.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan dengan 2 (dua) klaim mandiri www.djpp.kemenkumham.go.id

148.membuat surat penarikan kembali permohonan yang belum diproses dalam pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 149.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 1 (satu) klaim mandiri; 150.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 2 (dua) klaim mandiri 151.membuat surat penarikan kembali permohonan yang sedang dalam proses pemeriksaan Paten P Lengkap dengan 3 (tiga) klaim mandiri atau lebih; 152.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya tahap awal; 153.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya tahap lanjutan; 154.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya tahap akhir; 155.melakukan supervisi terhadap hasil pemeriksaan Pemeriksa Paten Madya penarikan kembali; 156.melakukan penelitian hukum untuk menentukan the state of law sehubungan dengan masalah hukum yang tidak biasa yang mungkin berkembang dalam proses penuntutan atas permohonan; 157.mengevaluasi preseden kasus yang ditemukan dan menentukan penerapannya dengan kasus yang sedang ditangani; 158.mengevaluasi bukti kegunaan dan menentukan pemenuhan aturan hukum untuk tujuan pembuktian kegunaan; 159.menentukan satu dari beberapa permohonan paten yang sama yang diajukan oleh pemohon; 160.menentukan kelengkapan persyaratan keputusan (diberi atau ditolaknya) suatu permohonan paten berdasarkan keterangan-keterangan ahli yang disampaikan oleh pemohon; 161.mengevaluasi penjelasan pemohon dengan melakukan dengar pendapat (hearing); 162.mengevaluasi penjelasan pemohon dengan melakukan mempertimbangkan permintaan hak khusus; 163.mengevaluasi penjelasan pemohon dengan melakukan membuat keputusan mengenai penggunaan invensi tersebut sebelum dimohonkan patennya; 164.memberikan argumen pada Komisi Banding; 165.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di DPR; www.djpp.kemenkumham.go.id

166.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di Pengadilan; 167.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di Kepolisian; 168.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di KPPU; 169.menjadi saksi ahli dalam kasus pelanggaran paten di intansi terkait lainnya; 170.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai panelis; 171.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai pembahas; 172.melakukan ekspose (panelisasi) kasus terhadap permohonan paten, sebagai sekretaris; 173.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penasehat (advisor) di lembaga-lembaga penelitian; 174.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai koordinator pemeriksa antar kantor paten; 175.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai Koordinator pemeriksa untuk mediasi paten; 176.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai ketua kelompok Pemeriksa Paten; 177.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim sistem inovasi nasional; 178.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim ekonomi kreatif; 179.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota dewan riset nasional; 180.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim koordinasi perizinan peneliti asing; 181.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji calon pemeriksa paten; 182.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai penguji penjenjangan jabatan fungsional pemeriksa paten; 183.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai anggota tim penerapan dan pengkajian teknologi; 184.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai juri lomba inovasi nasional; 185.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai tim pelaksanaan paten; 186.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum nasional; 187.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pimpinan untuk forum internasional; dan www.djpp.kemenkumham.go.id

188.melaksanakan tugas internalisasi paten sebagai pelaksana harian. (2) Pemeriksa Paten yang melaksanakan kegiatan sebagaimana dimaksud pada ayat (1) diberikan nilai angka kredit sebagaimana tercantum dalam Lampiran I yang merupakan bagian tidak terpisahkan dari Peraturan Menteri ini. (3) Pemeriksa Paten yang melaksanakan kegiatan pengembangan profesi dan penunjang tugas Pemeriksa Paten diberikan nilai angka kredit sebagaimana tercantum dalam Lampiran I yang merupakan bagian tidak terpisahkan dari Peraturan Menteri ini.

← Pasal 8 Lihat Peraturan Lengkap Pasal 10 →